在电子测试测量领域,一款功能强大且操作便捷的任意波函数发生器,是工程师们梦寐以求的得力工具。AFG31000 系列任意波函数发生器,凭借其创新技术与卓越性能,脱颖而出,成为众多专业人士的理想之选。
优异指标,满足多元需求
AFG31000 提供单或双通道型号,接到 50Ω 负载时,输出幅度范围达 1 mVp-p 至 10 Vp-p,灵活适配不同测试场景。基本模式下,可输出 25 MHz 至 250 MHz 的正弦波形,采样率从 250 MSa/s 到 2 GSa/s 可选,14 位垂直分辨率带来精细的信号呈现。连续、调制、扫描与突发模式一应俱全,各通道具备 128 k 点的任意波形内存,满足基础测试需求。高级模式下,连续模式与选配的序列、触发和选通模式相结合,各通道任意波形内存可拓展至 16 M 点(可选 128 M 点),序列模式下多达 256 步,变量采样时钟范围广,最小波形长度仅 168 点,粒度为 1 点,为复杂测试提供有力支持。
创新技术,提升测试效率
InstaView™ 技术是 AFG31000 的一大亮点。它能直接查看连接被测设备(DUT)后的实时波形,无需借助示波器等额外设备,既节省了测试时间,又避免了因阻抗不匹配导致的实验错误,让测试结果更加准确可靠。此外,AFG31000 内置双脉冲测试软件,在一分钟内就能在触摸显示屏上生成两个具有可变脉冲宽度(20 ns 到 150 µs)的波形,无需外部 PC 应用程序或手动编辑,可轻松测量开关器件参数,评估 MOSFET 和 IGBT 等功率器件的动态性能。
功能升级,拓展应用边界
AFG31000 不仅开箱即用,还支持功能选配升级。用户可将内存扩展至每通道 128 M 点,还能通过选配序列/触发/选通模式,实现循环、等待、跳转等多种功能,创建时序灵活、复杂的长波形,以更低的成本实现复杂波形的创建和编辑,进一步提升测试水平。
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